影響涂覆層測厚儀測量精度的原因？

影響涂覆層測厚儀測量精度的原因？

影響測量精度的原因：

涂覆層測厚儀的基本工作原理是：當測頭與被測式樣接觸時,測頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場, 使置于測頭下的金屬導體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導體與測頭之間非導電覆蓋層厚度的函數(shù). 即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場會改變測頭參數(shù),而測頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測涂鍍層的厚度.
影響其測量精度的原因如下：
（1） 覆蓋層厚度大于25µm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
（2） 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
（3） 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
（4） 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的.
（5） 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
（6） 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
（7） 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.